Valaistuslaitteiden testauspalvelutslaitteet

EULUMDAT, IESNA, valonjako, valoteho, välkkyminen, UV, PPF

/ PALVELUT / Valaistuslaitteet

Goniolaboratoriomme palvelee valaisimien valonjakokäyrien mittauksissa. Käytämme viittä goniofotometriä erityyppisiin tarpeisiin, joten pidämme toimitusajan lyhyenä - tulokset saatavissa jopa 24 tunnissa. Mittauslaitteemme täyttävät kansainvälisten mittausstandardien vaatimukset. Goniofotometreillämme mittaamme valaisimien valonjakokäyriä spektrin, kulman ja ajan suhteen sekä valotehokkuutta. Mittaustiedot raportoidaan standardoidussa EULUMDAT/IESNA-tiedostomuodossa, joka soveltuu Dialux / Relux-tiedostoihin. Raportoimme tulokset myös eri tavoin tarpeidesi mukaan erillisissä pdf-raporteissa.

Valaisimen enimmäismitat ovat 50 kg ja 2,9 m.

Palvelumme ovat seuraavien mittausspesifikaatioiden mukaisia:

EN 13032-1 Valo ja valaistus. Lamppujen ja valaisimien fotometristen tietojen mittaus ja esittäminen.
LM-79-08 Solid-State-valaistustuotteiden sähkö- ja fotometriset mittaukset
CIE S 025/E:2015 Testimenetelmä LED-lampuille, LED-valaisimille ja LED-moduuleille
IEC TR 63158 Yleisvalaistuslaitteet - Objektiivinen testimenetelmä valaistuslaitteiden stroboskooppisille ilmiöille
IEC TR 61547-1 Yleisvalaistukseen tarkoitetut laitteet. EMC-häiriönsietovaatimukset. Osa 1: Objektiivinen valon välkyntämittari ja jännitteen vaihtelun sietotestimenetelmä
CIE 232:2019 Häikäisyn aiheuttama epämukavuus valaisimista, joilla on epäyhtenäinen lähdeluminanssi

Pyydä mittaustarjousta

Luminous Intensity Distribution

Standardimittauspalvelu sisältää

EULUMDAT-tiedosto (tai tarvittaessa IES)
Lyhyt raportti (PDF, html)
Valovoimajakauma (cd, cd/klm)
Valovirta (lm), valotehosuhde (%)
Suhteellinen alapuolinen valovirta, DWFF (%)
Syöttöteho (W)
Säteilykulmataulukko (BA50, BA10)

Valinnaiset parametrit:

Energiatehokkuusindeksi, EEI
Luminanssi (cd/m2)
Vakiintumiskäyrä
Optinen välkkymistaajuus, välkkymisindeksi, prosentuaalinen välkyntä, välkkymisriskiluokitus
Välkkymisparametrit SVM, PstLM
LED-ohjaimen tehokkuus

Sisävalaisimen raportti

Vakioraportti
Häikäisyindeksi UGR
Kartiokaavio (kuusi muokattavaa etäisyyttä)
Lattiavalaistus (monivärinen piirros, harmaasävy, muotoviivapiirros)
CU-, CCEC- ja WEC-taulukot

Ulkovalaisimen raportti

Vakioraportti
Lattiavalaistus (monivärinen piirros, harmaasävy, muotoviivapiirros)
Katuvaloluokan simulointi
Pitkittäiset isoluksiluvut vaaka-/ pystytasoissa (neljä muokattavaa luksitasoa)

Raportti kasvien kasvuvaloista

Fotosynteettinen fotonivuo (PPF) eri aallonpituusalueilla
PPF-tiheysjakauma poikittais- ja pitkittäismatkan funktiona
Kartiokaavio PPFD:stä µmol·m⁻²·s⁻¹ (kuusi muokattavaa etäisyyttä)
PPFD:n valaistusjakauma µmol·m⁻²·s⁻¹ (monivärinen piirros, harmaasävy, muotoviivapiirros)

Raportti UV-valonlähteistä

UV:n spektrinen säteilyteho UV-C-, UV-B- ja UV-A-aallonpituuskaistoilla mW:n tai W:n yksiköissä
Kartiokaavio UV-säteilyn voimakkuudesta yksikköinä mW/m2, W/m2 tai mW/cm2 (kuusi muokattavaa etäisyyttä)
UV-säteilyn valaistusjakauma yksikköinä mW/m2, W/m2 tai mW/cm2 (monivärinen piirros, harmaasävy, muotoviivapiirros)

Spektrinen mittausraportti

Optinen teho (W), ottosähkötehon hyötysuhde (W/W, %), säteilyn valaistustehokkuus LER (lm/W)
Värikoordinaatit (xy, u'v'), vastaava värilämpötila CCT, Värintoistoindeksi CRI / Värinlaatuasteikko CQS (Ra, R1-14) vs. kulma ja tehokkaat arvot
MacAdam ellipsi / SDCM

Valinnaiset parametrit:

Spektrinen radianssi (W/sr/m2 /nm)
Spektrinen säteilyvoimakkuus (W/m2 /nm)
Fotosynteettisesti aktiivinen säteily, PAR / PPFD / PPF

Mittauslaitoksemme ovat jäljitettävissä Suomen ja Yhdysvaltain metrologiainstituutteihin MIKES ja NIST.

Jäljitettävät valon mittaukset ja kalibroinnit Suomesta

Ota yhteyttä